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: 兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品名稱(chēng)：兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有：50L、100L、150L、216L、的內(nèi)箱尺寸；

備注：其他尺寸可非標(biāo)定制產(chǎn)品，具體規(guī)格參數(shù)以方案書(shū)為準(zhǔn)。

高溫沖擊范圍：+60℃～+150℃（可定制+200℃）

低溫沖擊范圍：X：0℃～-65℃、F：0℃～-55℃、L：0℃～-40℃（可選）
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: 溫度沖擊試驗(yàn)箱

品牌：瑞凱/RIUKAI

型號(hào)：RK-TS-150

高溫：+60℃～+150℃（非標(biāo)可定制180℃、200℃）

低溫：A（-10℃～-40℃）；B（-10℃～-55℃）；C（-10℃～-65℃）

升溫時(shí)間：常溫～+200℃≤15 min

降溫時(shí)間：A（+20℃～-55℃）≤70min；B（+20℃～-65℃）≤80min；C（+20℃～-80℃）≤90min
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: 三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

產(chǎn)品名稱(chēng)：三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型有：50L、100L、150L、216L、的內(nèi)箱尺寸；

備注：其他尺寸可非標(biāo)定制產(chǎn)品，具體規(guī)格參數(shù)以方案書(shū)為準(zhǔn)。

高溫沖擊范圍：+60℃～+150℃（可定制+200℃）

低溫沖擊范圍：X：0℃～-65℃、F：0℃～-55℃、L：0℃～-40℃（可選）
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[技術(shù)文章]IC芯片行業(yè)中溫度沖擊試驗(yàn)箱的介紹2020年11月02日 08:55: 在IC芯片行業(yè)，溫度沖擊試驗(yàn)是評(píng)估IC產(chǎn)品中具有不同熱膨脹系數(shù)的金屬之間的界面的接觸良率。方法是通過(guò)循環(huán)流動(dòng)的液體從高溫到低溫重復(fù)變化。在快速溫度變化的過(guò)程中（比如日夜溫差，突然下雨，四季變化等），芯片會(huì)出現(xiàn)熱疲勞而失效，其能快速驗(yàn)證芯片封裝材料、制程工藝等瑕疵。; 閱讀（123）標(biāo)簽：

[常見(jiàn)問(wèn)答]溫度沖擊試驗(yàn)箱是怎樣保持溫度“沖擊性”2020年10月10日 11:29: 溫度沖擊試驗(yàn)箱也稱(chēng)作“高低溫沖擊性試驗(yàn)箱、熱冷沖擊性試驗(yàn)箱”，做為一款仿真模擬極端溫度自然環(huán)境的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，通常用以電子設(shè)備等制造行業(yè)。隨之現(xiàn)如今的智能科技，很多的創(chuàng)新產(chǎn)品被很多的開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)研發(fā)出去，而電子產(chǎn)業(yè)做為一個(gè)新新迅速發(fā)展趨勢(shì)的行業(yè)，每一年有很多的商品被開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)并投放市場(chǎng)，而在這種商品的身后，通常親身經(jīng)歷過(guò)很多的實(shí)驗(yàn)，在其中溫度實(shí)驗(yàn)被列為比成自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)。; 閱讀（235）標(biāo)簽：

[技術(shù)文章]溫度循環(huán)與冷熱沖擊試驗(yàn)的區(qū)別2020年09月09日 10:09: 溫度沖擊試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5 等。而溫度循環(huán)試驗(yàn)影響篩選結(jié)果的主要參數(shù)為溫度變化范圍、溫度變化速率及循環(huán)次數(shù)。通常適用于組件級(jí)篩選。篩選溫度時(shí)間歷程考忠受篩產(chǎn)品通電和不通電兩種情況。; 閱讀（400）標(biāo)簽：