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如何區(qū)別快速溫度變化試驗箱和冷熱沖擊試驗箱
瑞凱儀器研發(fā)生產可靠性環(huán)境試驗箱已有20余年，與客戶溝通時發(fā)現客戶對冷熱沖擊試驗箱和快速溫變試驗箱的區(qū)分比較模糊，客戶在評定試驗方法采用哪種設備的時候，不知道如何選購，下面就兩種設備的區(qū)別做下簡單介紹供廣大用戶參考。
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PCT高壓加速老化試驗箱試驗方法及試驗標準
PCT高壓加速老化試驗一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗，最主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度（100%R.H.）[飽和水蒸氣]及壓力環(huán)境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板（PCB&FPC），用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的，如果待測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
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認識“紫外線老化試驗箱”都有哪些參照標準
紫外老化試驗箱適用于非金屬材料的耐陽光和人工光源的老化試驗。源采用8只額定功率為40W的紫外熒光燈作發(fā)光源。紫外線熒光燈管，分布在機器的兩側，每側各4只(有UVA-340和UVB-313光源供用戶選擇配置)。參照標準GB/T14522-2008《中華人民共和國國家標準--機械工業(yè)產品用塑料、涂料、橡膠材料-人工氣候加速試驗方法》GB/T16585-1996《中華人民共和國國家標準-硫化橡膠人工氣候老化(熒光紫外燈)試驗方法》及GB/T16422.3-1997《塑料實驗室光源暴露試驗方法》等相應標準條款設計制造。
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半導體芯片高低溫試驗箱
半導體芯片行業(yè)是目前國內比較新興的行業(yè)，隨著芯片行業(yè)的要求越來越高，其測試難度也在不斷加強，為此，無錫冠亞推出了半導體芯片高低溫試驗箱，那么，對于半導體芯片高低溫試驗箱的發(fā)展背景大家了解多少呢~
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可程式恒溫恒濕試驗機的指標設置
經常有些客戶問到關于可程式恒溫恒濕試驗機的指標是如何設置的，對此對可程式恒溫恒濕試驗機指標的設置提出以下的建議：可程式恒溫恒濕試驗機溫度范圍。高溫：由于GB/T2423的等級125℃上是155℃，因此高溫定在150℃與130℃沒有區(qū)別。建議標稱溫度為150℃，溫場測試指標在125℃或130℃，溫場測試指標在技術協議中體現，樣本上可不做說明。
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大型高溫老化房驗收完成，出貨！
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大型高溫老化房驗收完成，出貨！
近日，瑞凱儀器連續(xù)接到大型高溫老化房的定制項目，四臺R-PCK-268800非標大型高溫老化房經過設計、組裝和調試，達到客戶滿意的標準。于昨日完成打包工作，今日正式出庫。 【更多詳情】
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